電路板維修測試儀主要的測試方法包含兩種類型,分別是集成ic功能測試和vi曲線測試。
首先我們介紹第一種,電路維修測試儀對集成IC功能測試的過程是:基于集成IC設(shè)備庫,將測試信號應(yīng)用于測試集成IC的每個輸入管腳,提取集成IC輸出信號,并與理論值進(jìn)行比較。當(dāng)比較結(jié)果一致時,測試集成IC功能正確。當(dāng)不一致時,測試集成IC功能不正確。
測試軟件包括通用集成IC設(shè)備庫,如74系列、4000系列、模擬集成IC設(shè)備系列、電壓比較器系列等。如果集成IC模型被拋光或識別不清楚,只要集成IC存在于設(shè)備庫中,功能完好,輸入集成IC管腳數(shù),循環(huán)測試信號和理論值比較,就可以識別集成IC的設(shè)備模型。
第二種,vi曲線測試。vi曲線測試一般是適用于超出器件庫范圍的集成ic以及晶體管和阻容器等等。為什么叫做vi曲線呢?因為這個測試方法的過程是在線路兩個結(jié)點(diǎn)之間注入一定范圍和頻率的周期信號,從而在顯示坐標(biāo)上形成電流隨電壓變化的函數(shù)曲線,所以叫做vi曲線。部件故障通常伴隨著管腳之間阻抗特性的變化。通過比較電路板(或設(shè)備)上相同結(jié)點(diǎn)之間的VI曲線,可以找到阻抗特性變化的結(jié)點(diǎn),從而確定故障部件。直接觀察或比較VI曲線的過程稱為VI曲線測試。由于單坐標(biāo)系下VI曲線測試存在盲點(diǎn),5坐標(biāo)系的5CVI曲線可以消除VI曲線測試的盲點(diǎn)問題。
VI曲線測試支持IC測試夾、測試插座、測試筆等,操作靈活。電路維護(hù)測試儀可以在計算機(jī)中存儲電路板上部件或電路結(jié)點(diǎn)的VI曲線信息,用于維護(hù)過程中的比較測試。由于VI曲線測試不屬于設(shè)備功能測試,因此不受集成IC設(shè)備庫的限制。
當(dāng)然,電路板維修測試儀除了集成ic功能測試和vi曲線測試之外,還有光耦測試、電容測試和晶體管測試等專項測試,對一些元器件還能夠進(jìn)行參數(shù)測試。
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